Finden Sie schnell bohr und fräsmaschine für Ihr Unternehmen: 6 Ergebnisse

RASTER-RÖNTGEN-PHOTOELEKTRONEN-SPEKTROSKOPIE (XPS) Die XPS-Technik ist oberflächenempfindlich und dient zur Bestimmung der Oberflächenzusammensetzung, die auf die oberste Schicht von wenigen nm beschränkt ist. Sie basiert auf dem externen photoelektrischen Effekt; die Probe wird mit Röntgenstrahlen bestrahlt, was zur Emission von Photoelektronen führt. Die kinetische Energie der ausgestoßenen Photoelektronen gibt Aufschluss über die elementare Zusammensetzung und den elektronischen Zustand der Oberflächenelemente. Deshalb ist diese Technik auch als Elektronenspektroskopie für die chemische Analyse (ESCA) bekannt. SXPS liefert folgende Informationen: - Quantitative Oberflächenanalyse: elementare Zusammensetzung, chemische Formel und elektronischer Zustand der Elemente - Sekundärelektronenbild ermöglicht die Unterscheidung heterogener Oberflächen - Winkelabhängige XPS-Messung und Tiefenprofilierung der Zusammensetzung möglich Anwendungen: - Analyse von dünnen Schichten und Beschichtungen - Natur von Grenzflächenschichten - Nachweis von Dotierstoffen und Verunreinigungen - Untersuchung von Korrosion Probeanforderungen: - Pulver/Dünnschicht (organisch/anorganisch/Polymer) - Beschaffenheit: leitend, halbleitend, isolierend AUGER-SPEKTROSKOPIE (AES) Bei der AES-Technik wird die Probe mit einem fokussierten Elektronenstrahl bestrahlt, der zum Auswurf eines Elektronen der inneren Schale führt. Die Leerstelle des ausgestoßenen Elektrons wird durch ein Elektron der äußeren Schale aufgefüllt, wobei sekundäre Röntgenstrahlung emittiert wird. Diese sekundäre Röntgenstrahlung mit einer Energie, die der Energiedifferenz zwischen zwei Orbitalen entspricht, führt zum Auswurf eines weiteren Elektronen der äußeren Schale, das als Auger-Elektron bezeichnet wird. Die kinetische Energie des Augerelektrons ist elementspezifisch und hilft bei der Bewertung der Oberflächenzusammensetzung. Der fokussierte Elektronenstrahl ermöglicht die Analyse von ultramikroskopischen Bereichen (5 nm oder weniger). AES bietet eine bessere räumliche Auflösung als XPS, da der Sondenstrahl relativ 100 Mal kleiner ist. Anwendungen: - Analyse von dünnen Schichten und Beschichtungen - Beschaffenheit von Grenzschichten (mit FIB ist es einfach, die Oberfläche und tiefere Schichten gleichzeitig zu untersuchen) - Nachweis von Dotierstoffen und Verunreinigungen - Untersuchung von Korrosion Anforderungen an die Probe: - Pulver/Dünnschicht (organisch/anorganisch/Polymer) - Beschaffenheit: leitend, halbleitend, isolierend

Heißpressen, Kalt-& Warmpressen, Laborpressen, Härteöfen

Getriebebohrmaschine Tisch 316 x 400 horinzontal 200 x 510 vertikal max. Abstand Tisch zur Spindel 710 mm min. Abstand Tisch zur Spindel 160 mm mit autom. Bohrvorschüben Bohrtiefenanzeige 12 Stufen Vorschübe 0,1 - 0,2 und 0,3 mm Motorleistung 2,2 KW Abmessungen 580 x 1050 x 2040 mm Gewicht 570 kg Auf Lager: Nein Baujahr: neu

Retrofit Aus alt mach neu Wir helfen deiner alten Anlage wieder auf die Sprünge. Und das Beste: bei INDAT kommt alles aus einer Hand!

5-Achs Bearbeitungszentrum Unser neues 5-Achs Bearbeitungszentrum in Betrieb. Kawaski Roboter montiert Roboter. EEP Roboter Etikettieranlage Etikettier-Roboter für 18L Ovaleimer. EEP Getriebefertigung und Prüfung Fertigungszelle für Automatikgetriebeteile

- Neumaschine - Tisch 316 x 400 horinzontal 200 x 510 vertikal max. Abstand Tisch zur Spindel 710 mm min. Abstand Tisch zur Spindel 160 mm mit autom. Bohrvorschüben Bohrtiefenanzeige Geschwindikeitsanzeige elektronischer Drehzahlregelung 250 bis 800 U/min und 900 bis 2500 U/min Vorschübe 0,075 - 0,15 und 0,225 mm Motorleistung 2,2 KW Abmessungen 580 x 1050 x 2040 mm Gewicht 600 kg Auf Lager: Nein Baujahr: neu